一品影院,色YEYE香蕉凹凸视频在线观看,国产女人高潮叫床视频,久久这里精品

熱門搜索:掃描電鏡,電子顯微鏡,細(xì)胞成像分析
技術(shù)文章 / article 您的位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 汽車清潔度分析中,不同種類顆粒的危害性分析

汽車清潔度分析中,不同種類顆粒的危害性分析

發(fā)布時(shí)間: 2024-01-04  點(diǎn)擊次數(shù): 1286次

關(guān)于汽車清潔度:

 

汽車行業(yè)中關(guān)于清潔部件的要求,最早由羅伯特·博世公司(Robert Bosch)在 1996 年為了提高柴油汽車發(fā)動(dòng)機(jī)共軌噴射系統(tǒng)的生產(chǎn)質(zhì)量而提出,他們?cè)谏a(chǎn)中發(fā)現(xiàn)小的噴嘴很容易被系統(tǒng)中殘留的污染顆粒物堵塞,于是提出了生產(chǎn)中清潔部件的質(zhì)量規(guī)范,形成清潔度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

 

2005 年德國(guó)汽車行業(yè)協(xié)會(huì)出版了 VDA 19 標(biāo)準(zhǔn), 由于德國(guó)汽車工業(yè)的巨大影響力,該標(biāo)準(zhǔn)一經(jīng)實(shí)施便成為世界非常有用的文件。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織在吸收、借鑒 VDA 19 標(biāo)準(zhǔn)基礎(chǔ)上,于 2007 年發(fā)布了 ISO 16232 系列清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),成為世界范圍內(nèi)政府層面主導(dǎo)的通用標(biāo)準(zhǔn)。

2018 年 12 月,新版的國(guó)際標(biāo) 準(zhǔn) ISO 16232 - 2018《道路車輛部件和系統(tǒng)的清潔度》發(fā)布實(shí)施,本文基于該標(biāo)準(zhǔn),解讀了掃描電鏡 / X 射線能譜儀(SEM/EDX)分析方法,并運(yùn)用該方法進(jìn)行鋁合金壓鑄件顆粒物的測(cè)試分析。

1-1.png

1.并非所有顆粒都具有相同的風(fēng)險(xiǎn)特征

清潔度一般指汽車零件、總成及整機(jī)等部位被顆粒物污染的程度,用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、數(shù)量、材料種類等特征參數(shù)來表征。特定部件指潛在危機(jī)產(chǎn)品壽命的部件,如:燃油系統(tǒng)、制動(dòng)系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)等,其中液壓系統(tǒng)部件對(duì)污染顆粒物的存在尤為敏感。具體采用何種方法及指標(biāo)對(duì)顆粒物進(jìn)行測(cè)試分析,取決于不同顆粒物對(duì)部件性能的影響程度及清潔度控制精度要求。

2.不同種類顆粒的危害分析

目前,硬質(zhì)顆粒的行業(yè)關(guān)注度非常高,以下是不同種類顆粒的危害性。

掃描電鏡下的硬質(zhì)顆粒

4.png

3.現(xiàn)有測(cè)試方法及其局限性

傳統(tǒng)的清潔度分析方法(重量法和光鏡法)只能提供清潔部件上大顆?;覊m和碎片的總體重量或形狀信息,而不能確定污染物的確切種類(如 SiO 和 AlO 等硬質(zhì)顆粒),無法全面分析顆粒的污染源。

 

4.基于掃描電鏡+能譜法的全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)

為獲得顆粒的材質(zhì)屬性,需要采用掃描電鏡 / X 射線能譜儀(SEM/EDX)分析方法。全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng),以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ),可以全自動(dòng)對(duì)顆?;螂s質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì),允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分,從而判斷出污染源,為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

該過程符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。只需一鍵,即可自動(dòng)分析 4 片直徑 47mm 的濾膜,無需人員值守,可連續(xù)運(yùn)行,并且一鍵生成報(bào)告,更有效率地監(jiān)控過程清潔度。

每個(gè)顆粒都分別分析并存儲(chǔ)相應(yīng)的數(shù)據(jù)。利用顆粒查看器,用戶可以輕松地對(duì)單個(gè)顆粒重新查看進(jìn)行更深入的分析或成像。

# ParticleX 獲得的測(cè)試結(jié)果 #

基于掃描電鏡的測(cè)試方法與光鏡測(cè)試方法的區(qū)別如下:

 

7.png


 

  • 聯(lián)系電話電話4008578882
  • 傳真傳真
  • 郵箱郵箱cici.yang@phenom-china.com
  • 地址公司地址上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路88號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng)T5,705室
© 2024 版權(quán)所有:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司   備案號(hào):滬ICP備12015467號(hào)-5   sitemap.xml   管理登陸   技術(shù)支持:制藥網(wǎng)       
  • 公眾號(hào)二維碼

聯(lián)