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不同視角 SEM 表征與數(shù)據(jù)分析—飛納電鏡 MAPS 開啟科學(xué)新視界

發(fā)布時間: 2024-06-25  點擊次數(shù): 3730次

飛納電鏡持續(xù)創(chuàng)新  系列一

01

“你這個位置是哪里拍的?其他位置什么情況?整個樣品上裂紋的走勢是什么樣的?”

作為失效工程師,收到老板或同事的靈魂拷問,是不是常常讓你頭疼?

02

“你這個太局部了,不具有代表性,其他位置什么情況?”

明明是供應(yīng)商產(chǎn)品的問題,但強(qiáng)勢的甲方的詭辯總讓你無奈不已?

03

“小張,我要整個組織切片的全貌,請確保拍下來。”

導(dǎo)師的要求太天真,臣妾做不到?

 

別擔(dān)心,飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)幫你解決這些問題!

 

2024 年,飛納發(fā)布數(shù)據(jù)采集及閱讀系統(tǒng) Phenom MAPS。該系統(tǒng)不僅改變了數(shù)據(jù)存儲的方式,還為 SEM 表征與數(shù)據(jù)分析開啟了“上帝視角”,幫您輕松掌握每一個細(xì)節(jié),不再需要費力解釋。

今天,我們來詳細(xì)了解一下這款為科學(xué)家們提供“上帝視角”的飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)。

不同視角 SEM 表征與數(shù)據(jù)分析—飛納電鏡 MAPS 開啟科學(xué)新視界

No。1 :多圖層數(shù)據(jù)采集及閱讀系統(tǒng)

“人如其名”,MAPS 是地圖的意思,該系統(tǒng)會像地圖一樣,通過層級的方式,實現(xiàn)對樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔,從全面(宏觀)到具體(微觀)無所不包,改變了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據(jù)存儲模式。并且,多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。

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No.2 :大面積成像拼接,wan全無痕!

大面積成像拼接,萬全無痕

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No.3:大面積能譜分析,地質(zhì)行業(yè)zui愛!

 

這里是一個地質(zhì)樣品的能譜拼圖結(jié)果,Phenom MAPS 可以實現(xiàn)對整個樣品的能譜采集,導(dǎo)出任意拼接的原始能譜數(shù)據(jù),以方便進(jìn)行離線分析。

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No.4 :CISA,關(guān)聯(lián)一切可視化圖片

 

光鏡、拉曼、紅外、XPS,甚至 CAD 或手繪草圖,通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例:通過 MAPS CISA,將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結(jié)合,分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

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通過結(jié)合 XPS 和 SEM 的分析,可以精確地將化學(xué)信息與顯微鏡提供的高分辨率結(jié)構(gòu)信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

 

總結(jié)

飛納電鏡 MAPS 系統(tǒng)不僅是一個自動化的圖像、能譜采集工具,更是一個數(shù)碼存檔和關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)分析平臺。通過地圖化的多層級掃描電鏡和能譜數(shù)據(jù)采集及關(guān)聯(lián)系統(tǒng),為您提供多模態(tài)的“上帝視角”,全面掌握顯微鏡數(shù)據(jù),不再錯過任何細(xì)節(jié)。

下期預(yù)告

 

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新品發(fā)布會直播預(yù)告

飛納電鏡將在第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會議,重磅發(fā)布新產(chǎn)品以及應(yīng)用案例!

 

iCEM 2024


不同視角 SEM 表征與數(shù)據(jù)分析—飛納電鏡 MAPS 開啟科學(xué)新視界

 

“第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會議(iCEM 2024)”結(jié)合目前電子顯微學(xué)主要儀器技術(shù)及應(yīng)用熱點,邀請業(yè)界電子顯微學(xué)專家、電子顯微學(xué)儀器技術(shù)專家、電子顯微學(xué)應(yīng)用專家等,重點邀請近來有重要工作成果進(jìn)展的優(yōu)秀青年學(xué)者代表線上分享精彩報告。

復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司應(yīng)用專家張傳杰將帶來主題【新品發(fā)布:飛納臺式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新智能型離子研磨制樣平臺介紹】報告時間:6 月 26 日 10:30-11:00,歡迎大家報名預(yù)約觀看。

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